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文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間：2023-03-06 瀏覽數量：
元器件老練篩選試驗（Burn-in test），是指在一定的環境溫度下、較長的時間內對元器件連續施加一定的電應力，通過電-熱應力的綜合作用來加速元器件內部的各種物理、化學反應過程，促使隱藏于元器件內部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達到剔除早期失效產品的目的。
1. 對于工藝制造過程中可能存在的一系列缺陷，如表面沾污、引線焊接不良、溝道漏電、硅片裂紋、氧化層缺陷和局部發熱點等都有較好的篩選效果。
2. 對于無缺陷的元器件，老煉也可促使其電參數穩定。
1. 常溫靜態功率老煉
常溫靜態功率老煉就是使器件處在室溫下老煉。半導體的PN結處于正偏導通狀態，器件老煉所需要的熱應力，是由器件本身所消耗的功率轉換而來的。由于器件在老煉過程中受到電、熱的綜合作用，器件內部的各種物理、化學反應過程被加速，促使其潛在缺陷提前暴露，從而把有缺陷的器件剔除。這種老煉方法無需高溫設備，操作也很簡便，因此被普遍采用。在器件的安全范圍內，適當加大老煉功率（提高器件結溫）可以收到更好的老煉效果，并且可以縮短老煉時間。
2. 高溫靜態功率老煉
高溫靜態功率老煉的加電方式及試驗電路形式均與常溫靜態功率老煉相同，區別在于前者在較高的環境溫度下進行。由于器件處在較高的環境溫度下進行老煉，集成電路的結溫就可達到很高的溫度。因此，一般說來，集成電路的高溫靜態功率老煉效果比常溫靜態功率老煉要好。
3. 高溫反偏老煉
在高溫反偏老煉中，器件的PN結被同時加上高溫環境應力和反向偏壓電應力，器件內部無電流或僅有微小的電流通過，幾乎不消耗功率。這種老煉方法對剔除具有表面效應缺陷的早期失效器件特別有效，因而在一些反向應用的半導體器件老煉中得到廣泛的應用。
4. 高溫動態老煉
高溫動態老煉主要用于數字器件，這種老煉方法是在被老煉器件的輸入端由脈沖信號驅動，使器件不停地處于翻轉狀態。這種老煉方法很接近器件的實際使用狀態。
老煉試驗通常分為三個階段：老煉測試前、老煉試驗和老煉后測試。
老煉前測試主要是進行基本的電參數和功能測試，用以剔除含有質量缺陷的器件，避免此類器件占用老煉設備和資源。電參數測試主要直流參數測試包括保證測試接口與電路正常的連接的接觸測試，漏電流與驅動電流的測試和轉換電平的測試。
老煉試驗實施時，將電路置于老煉板上，并放入老煉箱中施加熱應力和電應力，激發電路的早期失效。老煉后測試是將經過老煉的電路進行全面的電參數測試包括確定電路穩態時的直流參數測試，不同頻率下與時間相關的交流參數測試和滿足設計要求的功能性測試。測試環境包括常溫、低溫和高溫。
優科檢測認證是擁有CNAS、DILAC實驗室資質的專業第三方電子元器件老練篩選機構，專注電子元器件檢測近二十年，擁有齊全的元器件檢測分析、環境與可靠性試驗及電磁兼容檢測能力，可開展包括阻容器件、分立器件、電連接器、集成電路等產品的檢測篩選與失效分析等工作。
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