文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2024-04-02 瀏覽數(shù)量：
AEC-Q為AEC組織所制訂的車用可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，是零件廠商進(jìn)入汽車電子領(lǐng)域，打入一級(jí)車廠供應(yīng)鏈的重要門票。
AEC-Q100是AEC的第一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，主要是針對(duì)車載應(yīng)用的集成電路產(chǎn)品所設(shè)計(jì)出的一套應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，此規(guī)范對(duì)于提升產(chǎn)品信賴性品質(zhì)保證相當(dāng)重要。AEC-Q100是預(yù)防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，對(duì)每一個(gè)芯片進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠度確認(rèn)，特別對(duì)產(chǎn)品功能與性能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范測(cè)試。
單顆IC，如MCU芯片、MPU芯片、存儲(chǔ)類芯片、計(jì)算類芯片、安全類芯片、LED類驅(qū)動(dòng)芯片、電源芯片、運(yùn)算放大器、比較器、感知用模擬芯片、通信類芯片等
在AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)中要求，基本原則是芯片產(chǎn)品（根據(jù)產(chǎn)品類型、封裝形貌及取樣數(shù)量的要求）執(zhí)行并通過(guò)必要的測(cè)試項(xiàng)目。
- 群組A：加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試(PC、THB/HAST/AC、UHST/TH、TC、PTC、HTSL) 共6項(xiàng)測(cè)試
- 群組B：加速生命周期模擬測(cè)試(HTOL、ELFR、EDR) 共3項(xiàng)測(cè)試
- 群組C：封裝組裝完整性測(cè)試(WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI) 共6項(xiàng)測(cè)試
- 群組D：芯片制造可靠性測(cè)試(EM、TDDB、HCI、NBTI、SM) 共5項(xiàng)測(cè)試
- 群組E：電性驗(yàn)證測(cè)試(TEST、HBM/MM、CDM、LU、ED、FG、CHAR、EMC、SC、SER、LF) 共11項(xiàng)測(cè)試
- 群組F：缺陷篩選測(cè)試(PAT、SBA) 共2項(xiàng)測(cè)試
- 群組G：腔體封裝完整性測(cè)試(MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV) 共8項(xiàng)測(cè)試
優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)第三方AEC-Q100認(rèn)證測(cè)試機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測(cè)資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，可提供汽車用芯片AEC-Q100認(rèn)證測(cè)試服務(wù)。我們以車企車規(guī)芯片國(guó)產(chǎn)化需求為牽引，依托國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)基礎(chǔ)，提供完善的檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)，通過(guò)AEC-Q100車用標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格把控汽車芯片安全質(zhì)量，助力國(guó)產(chǎn)車規(guī)級(jí)芯片大力發(fā)展，為打造智能汽車安全體系再添新動(dòng)力。
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