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文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間：2024-09-03 瀏覽數量：
2022年8月，汽車電子委員會（AEC）正式發布了全新的AEC-Q102-003光電多芯片模組（OE-MCMs）認證標準。這一標準的出臺，旨在對日益增長的光電模組認證需求提供全面的規范和指導，特別是在現有AEC-Q104多芯片模組的基礎上，進一步細化了含有光電組件的多芯片模組的測試細節。
AEC-Q102-003標準定義的OE-MCMs包含至少一種光電器件，并由多個有源或無源器件構成。這些子組件通過焊接或膠粘方式連接到線路板上，構成復雜電路，最終封裝在單個多芯片模組內。這些模組廣泛應用于矩陣前照燈、智能RGB LED及紅外傳感器（如激光雷達模組）等產品中。
需要特別注意的是，OE-MCMs的認證應當涵蓋整個模組，而不僅僅是其中的某一子組件。如果某產品僅以OE-MCM形式通過認證，模組中的任何單個子組件都不能單獨被視為通過AEC認證。
根據標準，OE-MCMs被分為五種常見類型：
- Type A: 由不同家族光電器件組成，如紅外線反射式光電開關。
- Type B: 光電器件利用其內部光電信號功能組成，如光耦、光柵傳感器。
- Type C: 由光電器件與其他IC器件組成，如RGB LED燈。
- Type D: 光電器件和其他芯片不可分割組成，如矩陣式LED頭燈。
- Type E: 包含光電器件的IC封裝，如CMOS傳感器。
- Type F: 帶有光電和其他子組件的PCB或基板，直接連接到電路板，如脈沖激光模組。
OE-MCM的認證流程包含多個步驟，旨在確保模組中所有子組件的失效機理、連接性能及相互作用都得到全面測試。具體步驟如下：
1. 超集認證測試創建: 針對一個完整OE-MCM創建超集認證測試。如果OE-MCM中包含IC、分立半導體器件、光電器件或MEMS器件，相應的AEC-Q100、Q101、Q102或Q103測試應包含在超集測試中。同時，還需針對整個OE-MCM模組進行板級可靠性、X-Ray和超聲波掃描等特定測試。
2. 合并相同失效機理測試: 將超集中相同失效機理的測試項合并為一組，以簡化測試流程。
3. 評估測試覆蓋性: 評估是否可以用一個測試條件和時間覆蓋所有的測試項目，并確保測試條件不超過模組產品規格書規定的范圍。
4. 使用通用數據和替代測試: 在條件允許的情況下，可使用通用數據或子組件級別的認證測試作為替代測試，但封裝相關的測試認證仍必須在OE-MCM級別完成。
5. 執行剩余超集測試: 對未在前幾步中省略的所有超集測試進行驗證。
在認證過程中，失效判據包括不符合OE-MCM規范、整體模組及單獨芯片的性能漂移超出允許值等。樣品數量方面，認證所需的樣本數量在超集定義文件中有明確規定，對于復雜的OE-MCM，可以在供應商和用戶協商后適當減少樣本數量。
AEC-Q102-003認證標準的頒布，為光電多芯片模組（OE-MCMs）的測試和認證提供了詳盡的指導。優科檢測作為專業的第三方AEC-Q102認證機構，實驗室具備AEC-Q102標準CNAS全項測試資質和能力，可為LED、光電二極管、激光元件等提供全方位的車規認證試驗服務。我們將繼續為LED行業提供一流的技術支持，確保產品質量的可靠性與安全性。
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