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安規(guī)（XY）電容器可靠性試驗(yàn)執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)是GB/T6346.14-2015《電子設(shè)備用的固定電容器》中的相關(guān)條款，對(duì)應(yīng)的IEC標(biāo)準(zhǔn)是IEC60384-14:2005，廣東優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)第三方安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備GB/T6346.14、IEC60384-14標(biāo)準(zhǔn)CNAS檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力，可提供安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)、VDE認(rèn)證、CQC認(rèn)證等安規(guī)認(rèn)證檢測(cè)服務(wù)。

安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T 2123.2-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB/T 2423.3-1993電工電了產(chǎn)品基木環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法

GB/T 2123.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法

GB/T 6346.14、IEC 60384-14 安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)方法

安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目_試驗(yàn)方法及要求

一、高溫負(fù)荷

1. Y電容高溫負(fù)荷試驗(yàn)方法

試驗(yàn)溫度：最高溫度+10℃

試驗(yàn)時(shí)間：96H+8H

實(shí)驗(yàn)電壓：Y1、Y2:1000VAC

電容并聯(lián)測(cè)試

恢復(fù)1~2小時(shí)測(cè)試電性能

2. X電容高溫負(fù)荷試驗(yàn)方法

試驗(yàn)溫度：最高溫度115℃

試驗(yàn)時(shí)間：96H+8H

實(shí)驗(yàn)電壓：700VDC±3V

電容并聯(lián)測(cè)試

恢復(fù)1~2小時(shí)測(cè)試電性能

高溫負(fù)荷試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求

外觀：無(wú)顯著異常

容量變化率：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

漏電流：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

DF（損耗角）：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

絕緣電阻：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

注：試驗(yàn)電路板上要串聯(lián)一個(gè)大約1KΩ1/4W的保護(hù)電阻，且施加負(fù)荷電壓時(shí)不可瞬間施加其試驗(yàn)電壓，應(yīng)逐步加壓至試驗(yàn)電壓，待其穩(wěn)定后每H檢測(cè)負(fù)荷電壓是否在規(guī)定范圍內(nèi)！

二、溫度沖擊

1. Y電容溫度沖擊試驗(yàn)方法

試驗(yàn)條件：最高溫度與最低溫度來(lái)回循環(huán)5次，每次0.5H

恢復(fù)1~2小時(shí)測(cè)試電性能

2. X電容溫度沖擊試驗(yàn)方法

試驗(yàn)條件：最高溫度與最低溫度來(lái)回循環(huán)5次，每次0.5H

恢復(fù)1~2小時(shí)測(cè)試電性能

溫度沖擊試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求

外觀：無(wú)顯著異常

容量變化率：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

漏電流：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

DF（損耗角）：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

絕緣電阻：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

三、耐濕負(fù)荷

1. Y電容耐濕負(fù)荷試驗(yàn)方法

試驗(yàn)溫度：40℃±3℃

濕度：93%±3%

試驗(yàn)時(shí)間：96H+8H

實(shí)驗(yàn)電壓：Y1、Y2:1000VAC

電容并聯(lián)測(cè)試

恢復(fù)1~2小時(shí)測(cè)試電性能

2. X電容耐濕負(fù)荷試驗(yàn)方法

試驗(yàn)溫度：40℃±3℃

濕度：93%±3%

試驗(yàn)時(shí)間：96H+8H

實(shí)驗(yàn)電壓：700VDC±3V

電容并聯(lián)測(cè)試

恢復(fù)1~2小時(shí)測(cè)試電性能

耐濕負(fù)荷試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求

外觀：無(wú)顯著異常

容量變化率：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

漏電流：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

DF（損耗角）：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

絕緣電阻：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

注：試驗(yàn)電路板上要串聯(lián)一個(gè)大約1KΩ 1/4W的保護(hù)電阻，且施加負(fù)荷電壓時(shí)不可瞬間施加其試驗(yàn)電壓，應(yīng)逐步加壓至試驗(yàn)電壓，待其穩(wěn)定后每4H檢測(cè)負(fù)荷電壓是否在規(guī)定范圍內(nèi)！

四、溫度特性

1. 低溫特性試驗(yàn)方法

測(cè)試條件：最低溫度±3℃

0.5H后測(cè)試其電性參數(shù)

試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求

外觀：無(wú)顯著異常

容量變化率：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.0

DF（損耗角）：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.0

2. 高溫特性試驗(yàn)方法

測(cè)試條件：最高溫度±3℃

0.5H后測(cè)試其電性參數(shù)

高溫特性試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求

外觀：無(wú)顯著異常

容量變化率：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.0

DF（損耗角）：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.0

3. 高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)方法

測(cè)試溫度：最高溫度±3℃

試驗(yàn)時(shí)間：1000H+24H

恢復(fù)1-2小時(shí)測(cè)試電性能

試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求

外觀：無(wú)顯著異常

容量變化率：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

漏電流：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

DF（損耗角）：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

絕緣電阻：試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

為什么選擇廣東優(yōu)科檢測(cè)做安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)？

1. 實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)齊全，CNAS\CMA資質(zhì)認(rèn)證的第三方檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)。

2. 數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，專家團(tuán)隊(duì)，歐美進(jìn)口檢測(cè)設(shè)備，保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

3. UL、TUV、CQC授權(quán)實(shí)驗(yàn)室，可提供多國(guó)安規(guī)認(rèn)證服務(wù)。

4. 自有檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，檢測(cè)周期短、成本低。

5. 售后服務(wù)，相關(guān)工程師一對(duì)一服務(wù)。

6. 可出具中英文檢測(cè)報(bào)告。

安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)報(bào)告辦理流程

1. 業(yè)務(wù)咨詢：申請(qǐng)人提供產(chǎn)品資料、圖片及測(cè)試要求給我司；

2. 工程報(bào)價(jià)：根據(jù)申請(qǐng)人提供的資料，工程師作出評(píng)估，并向申請(qǐng)方口頭報(bào)價(jià)；

3. 提供資料：申請(qǐng)方接受口頭報(bào)價(jià)后，測(cè)試樣品提交到我司；

4. 支付款項(xiàng)：收到樣品后向申請(qǐng)方發(fā)出書(shū)面報(bào)價(jià)，申請(qǐng)方根據(jù)書(shū)面報(bào)價(jià)安排付款；

5. 樣品測(cè)試：依照所適用的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試；

6. 出具報(bào)告：測(cè)試完成實(shí)驗(yàn)室出具第三方CNAS測(cè)試報(bào)告，結(jié)案。