文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時(shí)間：2022-08-17 瀏覽數(shù)量：
半導(dǎo)體器件可以劃分為分立器件和集成電路兩大類。分立器件包括各種二極管、三極管、場效應(yīng)管、可控硅、光電器件及特種器件; 集成電路包括雙極型電路、 MOS電路、厚膜電路、薄膜電路等器件。
各種器件的失效模式和失效機(jī)理都有差異。不同的失效機(jī)理應(yīng)采用不同的篩選項(xiàng)目：
- 查找焊接不良，安裝不牢等缺陷，可采用振動(dòng)加速度;
- 查找元器件鍵合不牢，裝片不良，內(nèi)引線配置不合適等缺陷，采用離心加速度;
- 查找間歇短路、間歇開路等缺陷，采用機(jī)械沖擊等。
因此，不同器件的篩選程序不一定相同。如晶體管的主要失效模式有短路、開路、間歇工作、參數(shù)退化和機(jī)械缺陷等五種，每種失效模式又涉及到多種失效機(jī)理，這些都是制定合理的篩選程序的重要依據(jù)。
a) 外觀檢查：用10倍放大鏡檢查外形、引線及材料有無缺陷。
b) 溫度循環(huán)：使元器件交替暴露在規(guī)定的極限高溫和極限低溫下，連續(xù)承受規(guī)定條件和規(guī)定次數(shù)的循環(huán)，由冷到熱或由熱到冷的總轉(zhuǎn)移時(shí)問不超過1min，保持時(shí)間不小于10min。
c) 高溫壽命(非工作：按照國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的壽命試驗(yàn)要求，使元器件在規(guī)定的環(huán)境條件下(通常是最高溫度)存儲規(guī)定的時(shí)間。
d) 電功率老煉：按降額條件達(dá)到最高結(jié)溫下的老煉目的，老煉功率按元器件各自規(guī)定的條件選取。
e) 密封性試驗(yàn)：有空腔的元器件，先細(xì)檢漏，后粗檢漏。
f) 電參數(shù)測試(包括耐壓或漏電流等測試)：按產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范合同規(guī)定進(jìn)行。
g) 功能測試：按產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范合同規(guī)定進(jìn)行。
基于以上原理，優(yōu)化了元器件測試篩選先后次序，按照失效模式的分類，對檢測篩選手段依據(jù)元器件測試篩選先后次序的原則進(jìn)行排序。
1. 篩選要能有效地剔除早期失效的產(chǎn)品，但不應(yīng)使正常產(chǎn)品提高失效率。
2. 為提高篩選效率，可進(jìn)行強(qiáng)應(yīng)力篩選，但不應(yīng)使產(chǎn)品產(chǎn)生新的失效模式。
3. 合理選擇能暴露失效的最佳應(yīng)力順序。
4. 對被篩選對象可能的失效模式應(yīng)有所掌握。
5. 為制訂合理有效的篩選方案，必須了解各有關(guān)元器件的特性、材料、封裝及制造技術(shù)。
此外，在遵循以上五條原則的同時(shí)，應(yīng)結(jié)合生產(chǎn)周期，合理制定篩選時(shí)間。
優(yōu)科檢測認(rèn)證專注電子元器件檢測十五年，具備半導(dǎo)體集成電路、混合集成電路、微波電路及組件、半導(dǎo)體分立器件、光電子器件、通用元件、機(jī)電元件及組件、特種元件及外殼等元器件的篩選老化能力。可開展電子元器件二次篩選、元器件破壞性物理分析（DPA）、元器件失效分析（FA）、元器件安規(guī)認(rèn)證等元器件檢測認(rèn)證服務(wù)。
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