文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2022-10-10 瀏覽數(shù)量：
電子元器件篩選檢測(cè)是在電子元器件各種失效模式的基礎(chǔ)上，進(jìn)行的一系列有針對(duì)性的試驗(yàn)，從而達(dá)到有效剔除早期失效的目的。接下來(lái)為大家介紹電子元器件篩選試驗(yàn)項(xiàng)目與標(biāo)準(zhǔn)。
- 電性能相關(guān)試驗(yàn)：常溫測(cè)試、高溫測(cè)試、低溫測(cè)試、高溫老煉、高溫反偏、內(nèi)部潮濕。
- 氣候環(huán)境試驗(yàn)：溫度循環(huán)、溫度沖擊、熱沖擊、穩(wěn)定性烘焙、穩(wěn)態(tài)壽命、穩(wěn)態(tài)工作壽命。
- 機(jī)械應(yīng)力試驗(yàn)：恒定加速度、掃頻振動(dòng)、顆粒碰撞噪聲檢測(cè)、嚙合力和分離力、接觸件嵌入力和卸出力、接觸件插入力和分離力。
- 封裝相關(guān)試驗(yàn)：外觀檢查、密封性檢-粗檢、密封性檢查-細(xì)檢、X-ray。
- GJB 548B-2005 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
- GJB 360B-2009 《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
- GJB 128A-1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
- GJB 33A-1997 《半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范》
- GB/T 17574-1998 《半導(dǎo)體器件集成電路第 2 部分：數(shù)字集成電路》
- GJB 2138A-2015 《石英晶體元件總規(guī)范》
- GJB 1648A-2011 《晶體振蕩器總規(guī)范》
- GJB 2829A-2013 《音頻、電源和大功率脈沖變壓器和電感器通用規(guī)范》
- GJB 63C-2015 《有可靠性指標(biāo)的固體電解質(zhì)鉭電容器總規(guī)范》
- GJB 4157A-2011 《高可靠瓷介固定電容器通用規(guī)范》
- GJB 597B-2012 《半導(dǎo)體集成電路通用規(guī)范》
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優(yōu)科元器件篩選中心擁有各種專業(yè)檢驗(yàn)檢測(cè)儀器設(shè)備百余臺(tái)/套，其中包括AdvanTest SOC芯片測(cè)試系統(tǒng)、混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)、Chroma DC/DC測(cè)試系統(tǒng)等進(jìn)口測(cè)試系統(tǒng)以及業(yè)內(nèi)認(rèn)可度較高的測(cè)試儀器儀表，是專業(yè)第三方電子元器件篩選檢測(cè)公司。
我司有著豐富的電子元器件篩選檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)，可通過(guò)選擇適當(dāng)?shù)碾娮釉骷魏Y選流程，激發(fā)電子元器件潛在設(shè)計(jì)、生產(chǎn)缺陷，有效剔除早期失效產(chǎn)品，提高整機(jī)系統(tǒng)的可靠性，為客戶產(chǎn)品研制提供堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。
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