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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2023-07-25 瀏覽數(shù)量：
AECQ101和102是車用分立半導體元器件AEC-Q車規(guī)認證標準，優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q車規(guī)級電子元器件認證機構(gòu)，實驗室具備AEC-Q101和AEC-Q102標準CNAS全項測試資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，接下來為大家介紹AECQ101和102的區(qū)別。
AECQ101和102的適用對象、樣本量、失效依據(jù)、高溫工作試驗條件、溫度循環(huán)試驗條件、高溫高濕試驗條件、功率溫度循環(huán)試驗條件、DPA抽樣方式、熱阻試驗方法均存在區(qū)別，接下來為大家介紹主要區(qū)別。
1. 適用對象區(qū)別
AEC-Q101適用對象：車用分立半導體元器件
晶體管：BJT、MOSFET、IGBT；
二極管：Diodes、Rectifier、Zeners、PIN、Varactors。
AEC-Q102適用對象：車用分立光電半導體元器件
光器件：Light Emitting Diodes、Optocoupler、Laser Components、Photodiodes、Phototransistors。
2. 所需樣品數(shù)量區(qū)別
AEC-Q101所需樣品數(shù)量：
環(huán)境應(yīng)力試驗：3lot×77pcs/lot
LTPD(Lot Tolerance Percent Defective) = 1, 90%置信度的失效率為1%
AEC-Q102所需樣品數(shù)量：
環(huán)境應(yīng)力試驗：3lot×26pcs/lot
LTPD (Lot Tolerance Percent Defective) = 3, 90%置信度的失效率為3%
3. 失效判據(jù)區(qū)別
AEC-Q101失效判據(jù)：
- 不符合規(guī)格書規(guī)定的電學和光學參數(shù)范圍；
- 環(huán)境試驗前后參數(shù)值變化未保持在±20%以內(nèi)；
- 漏電未保持在5倍初始值以內(nèi)（對于濕氣試驗為10倍）；
- 由于環(huán)境試驗出現(xiàn)物理損壞；
- 如果失效原因被供應(yīng)商和用戶認為是由于處理不當或ESD的原因引起，這些失效可以被忽略，但應(yīng)呈現(xiàn)在報告中。
AEC-Q101失效判據(jù)：
- 不符合規(guī)格書規(guī)定的電學和光學參數(shù)范圍；
- 環(huán)境試驗前后參數(shù)值變化未保持在附錄5規(guī)定的±x%以內(nèi)；
- 由于環(huán)境試驗出現(xiàn)物理損壞（遷移、腐蝕、機械破壞、分層等）；
- 有些物理損壞可能由供應(yīng)商和用戶同意認為僅僅是外觀不良而不影響認證結(jié)果；
- 如果失效原因被供應(yīng)商和用戶認為是由于處理不當、測試板連接、ESD或其它跟測試條件無關(guān)的原因引起，這些失效可以被忽略，但應(yīng)呈現(xiàn)在報告中。
優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q認證機構(gòu)，實驗室具備AEC-Q100/101/102/103/104/200標準檢測資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，可提供車規(guī)級集成電路、分立半導體器件、光電半導體器件、傳感器、被動元件等汽車電子元件AEC-Q檢測認證服務(wù)。我們可依據(jù)產(chǎn)品使用條件和質(zhì)量指標，定義符合汽車電子質(zhì)量要求的測試計劃，助力客戶快速進入汽車電子市場。
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