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文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間：2023-08-24 瀏覽數量：
電子元器件可靠性試驗是電子設備可靠性的基礎，電子元器件高溫存儲試驗是將元器件暴露在高溫環境中，以此來評價元器件在高溫工作環境中遇到的運輸、儲存、使用環境條件下的性能。
優科檢測是專業第三方電子元器件環境可靠性試驗檢測機構，實驗室具備電子元器件氣候環境試驗、綜合環境試驗、機械環境試驗檢測資質和檢測能力，可提供電子元器件高溫存儲試驗第三方檢測服務，并可出具國家承認的中文或英文檢測報告。
電子元器件的失效很多是由于環境溫度造成體內和表面的各種物理、化學變化所引起的。溫度升高后，使得化學反應速率大大加快，其失效過程也得到加速，使有缺陷的元器件能及時暴露。
通過提高元器件環境溫度，加速元器件中可能發生或存在的任何化學反應過程（如由水汽或其他離子所引起的腐蝕作用，表面漏電、沾污以及金-鋁之間金屬化合物的生成等），使具有潛在缺陷的元器件提前失效而剔除。
高溫貯存試驗對于表面沾污、引線鍵合不良和氧化層缺陷等都有很好的篩選作用。
高溫貯存是在試驗箱內模擬高溫條件，對元器件施加高溫應力（不加電應力），使得元器件體內和表面的各種物理、化學變化的化學反應速率大大加快，其失效過程也得到加速，使有缺陷的元器件能盡早暴露。
高溫貯存篩選的特點：
1. 最大的優點是操作簡便易行，可以大批量進行，投資少，其篩選效果也不差，因而是目前比較普遍采用的篩選試驗項目。
2. 通過高溫貯存還可以使元器件的性能參數穩定下來，減少使用中的參數漂移，故在GJB548中也把高溫貯存試驗稱為穩定性烘焙試驗。
3. 對于工藝和設計水平較高的成熟器件，由于器件本身已很穩定，所以做高溫存貯篩選效果很差，篩選率幾乎為零。
元器件的電穩定性、金屬化、硅腐蝕和引線鍵合缺陷等。
1. 溫度-時間應力的確定
在不損害半導體器件的情況下篩選溫度越高越好，因此應盡可能提高貯存溫度。貯存溫度需根據管殼結構、材料性質、組裝和密封工藝而定，同時還應特別注意溫度和時間的合理確定。有一種誤解認為溫度越高、時間越長篩選考驗就越嚴格，這是錯誤的。確定溫度、時間對應關系的原則是：保持對元器件施加的應力強度不能變，即如果提高了貯存溫度，則應減少貯存時間。
2、高溫貯存多數在封裝后進行，半導體器件也有在封裝前的圓片階段或鍵合后進行，或封裝前后都進行。
3、國軍標中規定高溫貯存試驗結束后，必須在96 小時內完畢對元器件的測試對比。
1. 專家團隊
可靠性檢測專家、定制化服務、專業人員技術培訓服務，擁有多名航空、航天電子元器件質量可靠性專組成的專家團隊50余人。
2. 專業設備
配備各種規格的集成電路測試系統，老煉箱50余臺、各類環境箱體20臺套、機械性能與可靠性檢測設備30臺套、半導體分立器件測試系統、模擬器件測試系統、檢漏系統、PIND顆粒碰撞檢測設備等。
3. 一站式方案服務
依據客戶產品規格，準確制定元器件的篩選方案和規程\依據篩選結果，準確定位元器件失效機理，并依據客戶需求給出元器件失效分析方案。
4. 權威保障
軍用級檢測體系控制+軍方實驗室認可檢測設備，保證測試流程和測試精度，第三方公正檢測機構。
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