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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2024-05-14 瀏覽數(shù)量：
優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q200測試機構，實驗室具備AEC-Q200標準CNAS全項檢測資質和CNCA發(fā)證能力，可提供薄膜電容AEC-Q200測試及AEC-Q200認證服務。
薄膜電容器依據AEC-Q200 Table 4進行測試，具體測試項目如下：
| NO. 序號 | Stress 測試內容 | Reference 測試方法 | Minimum Sample Size Per Lot Depending on Component Size (cm3) | Number of lots 批次 | Accept on Number failed 允許不合格數(shù) | ||||
| 樣品體積 <10cm3 Sample Size Per 測試樣品數(shù)量 | ≧10cm3 ≦330cm3 | >330cm3 | Individual 單個型號 | Family 系列 | |||||
| 1 | Pre- and Post-Stress Electrical Test 應力測試前后電氣測試 | User Specification. 用戶規(guī)范 | 除非另有規(guī)定，所有認證器件 All qualification components unless otherwise specified | 0 Fails | |||||
| 2 | High Temperature Exposure (Storage) 高溫存儲 | MIL-STD-202 Method 108 | 77 | 26 | 10 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 3 | Temperature Cycling 溫度循環(huán) | JESD22-A104 | 77 | 26 | 10 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 4 | Humidity Bias 高溫高濕 | MIL-STD-202 Method 103 | 77 | 26 | 10 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 5 | High Temperature Operating Life 高溫工作壽命 | MIL-STD-202 Method 108 | 77 | 26 | 10 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 6 | External Visual 外觀檢查 | MIL-STD-883 Method 2009 | 所有認證器件 All qualification parts submitted for testing | 0 Fails | |||||
| 7 | Physical Dimension 尺寸檢查 | JESD22-B100 | 30 | 10 | 4 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 8 | Terminal Strength（THT） 端子強度 | MIL-STD-202 Method 211 | 30 | 10 | 4 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 9 | Resistance to Solvents 耐溶劑測試 | MIL-STD-202 Method 215 | 5 | 4 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 10 | Mechanical Shock 機械沖擊 | MIL-STD-202 Method 213 | 30 | 4 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 11 | Vibration 振動 | MIL-STD-202 Method 204 | 30 | 4 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 12 | Resistance to Soldering Heat 耐焊接熱 | MIL-STD-202 Method 210 | 30 | 4 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 13 | ESD ESD靜電測試 | AEC-Q200-002 | 15 | 6 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 14 | Solderability 可焊性 | J-STD-002 | 15 each condition | 6 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 15 | Electrical Characterization 電氣特性 | User Specification. | 30 | 10 | 4 | 3 | 3 | 0 Fails | |
| 16 | Flammability 可燃性 | UL 94 or IEC 60695-11-5 | 按照參考標準 Present certificate of compliance | 0 Fails | |||||
| 17 | Board Flex (SMD) 板彎曲（貼片） | AEC-Q200-005 | 30 | 10 | 4 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 18 | Terminal Strength (SMD) 引出端強度（貼片） | AEC-Q200-006 | 30 | 10 | 4 | 1 | 3 | 0 Fails | |
無源器件廠家要進入汽車領域，打入各一級(Tier1)汽車電子大廠供應鏈，必須取得兩張門票，第一張是由北美汽車產業(yè)所推的AEC-Q200(無源元件)可靠性標準；第二張門票，則要符合零失效(Zero Defect)的供應鏈質量管理標準ISO/IATF 16949規(guī)范(Quality Management System)。
對汽車廠和一級供應商來說，使用通過AEC-Q200認證的電子元器件風險小，通常會要求元器件通過AEC-Q200認證；對電子元器件供應商來說，通過AEC-Q200認證，是產品質量與可靠性的保證，能夠提高產品競爭力及溢價率。
因此，AEC-Q200雖然不是強制性的認證制度，但目前已成為公認的車規(guī)無源器件的通用測試標準。AEC-Q200認證，已成為無源器件是否適合于汽車應用的一個標志，或者說門檻。
1. 每個環(huán)境應力測試項目前后都要進行電參數(shù)測試，特別要求除外。
2. 1000小時的長時間老化測試會額外增加250，500，1000小時幾個階段。
3. 一般電參數(shù)測試會是在室溫狀態(tài)（25±5℃）下進行，應力測試完成后24±4小時內進行。
4. 電參數(shù)測試需在客戶規(guī)格書中宣稱的低溫，室溫，高溫中進行測試。
5. AEC-Q測試的接受條件和要求參數(shù)均依據客戶規(guī)格書進行判定，所有測試只接受零失敗。
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