文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2019-08-08 瀏覽數(shù)量：
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汽車電子元器件AEC-Q200認(rèn)證樣品要求
1. 批次要求：批次要求在表格1中有說(shuō)明；
2. 生產(chǎn)要求：所有AEC-Q200認(rèn)證器件都應(yīng)在制造場(chǎng)所加工處理，有助于量產(chǎn)時(shí)零件的傳輸；
3. 測(cè)試樣品的再利用：已經(jīng)用來(lái)做AEC-Q200非破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件可以用來(lái)做其他認(rèn)證測(cè)試，而做過(guò)AEC-Q200破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件則除了工程分析外不能再使用；
4. 樣品數(shù)量要求：用于AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試的樣品數(shù)量與（或）提交的通用數(shù)據(jù)必須與表1中指定的小樣品數(shù)量和接受標(biāo)準(zhǔn)相一致。如果通用數(shù)據(jù)不能滿足這些要求，就要進(jìn)行器件特殊認(rèn)證測(cè)試。當(dāng)對(duì)大量的器件進(jìn)行應(yīng)力測(cè)試時(shí)，禁止在可靠性測(cè)試中對(duì)產(chǎn)品使用夾具；
5. 預(yù)前應(yīng)力測(cè)試和應(yīng)力測(cè)試后要求：除非適用的測(cè)試的附加要求章節(jié)中有指定，預(yù)前應(yīng)力測(cè)試和應(yīng)力測(cè)試后只在標(biāo)稱溫度（室溫）下進(jìn)行。在更高等級(jí)環(huán)境應(yīng)用的認(rèn)證，溫度特殊值必須設(shè)有差情況和應(yīng)用的設(shè)計(jì)產(chǎn)品壽命，即每個(gè)測(cè)試中用至少一個(gè)批次的通用數(shù)據(jù)和器件特殊數(shù)據(jù)來(lái)設(shè)置溫度等級(jí)極端。例如，如果某供應(yīng)商設(shè)計(jì)一種器件，有意設(shè)置在工作溫度等級(jí)3環(huán)境（-40℃到+80℃），那么終端測(cè)試溫度極端僅需將其作為限定，供適用的應(yīng)力測(cè)試要求指定工作溫度極端下的電氣測(cè)試。針對(duì)更高工作溫度等級(jí)環(huán)境（等級(jí)1的-40℃到+125℃）應(yīng)用中的認(rèn)證，要測(cè)試至少一個(gè)批次能用到附加終端測(cè)試溫度極端的器件。所有的終端測(cè)試條件必須包括了給定產(chǎn)品系列的所有規(guī)格。
6. 應(yīng)力測(cè)試失效后的定義：測(cè)試失效定義為器件不符合用戶個(gè)別的器件規(guī)格，應(yīng)力測(cè)試后的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，或是供應(yīng)商的數(shù)據(jù)表。任何由于環(huán)境測(cè)試導(dǎo)致的外部物理破壞的器件也要被認(rèn)為是失效的器件。如果失效的原因被廠商和用戶認(rèn)為是非正確運(yùn)轉(zhuǎn)、靜電放電或一些其他與測(cè)試條件不相關(guān)的原因，失效就算不上，但作為數(shù)據(jù)提交的一部份上報(bào)。供應(yīng)商必須描述每個(gè)應(yīng)力測(cè)試的參數(shù)失效標(biāo)準(zhǔn)作為向用戶提交認(rèn)證數(shù)據(jù)的一部分以批準(zhǔn)。每種器件類型建議的參數(shù)清單應(yīng)包含在每種器件類型測(cè)試表格的后面。
表1：AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試樣品數(shù)量要求
| 應(yīng)力方式 | NO | 注釋 | 樣品數(shù)/批 | 批次 | 接受標(biāo)準(zhǔn) |
| Pre-and Post-Stress Electrical Test 應(yīng)力測(cè)試前后電氣測(cè)試 | 1 | G | 所有進(jìn)行認(rèn)證的產(chǎn)品都應(yīng)送去測(cè)試 | 0 | |
| High Temperature Exposure 高溫存儲(chǔ) | 3 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
| Temperature Cycling 溫度循環(huán) | 4 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
| Destructive Physical Analysis 破壞性物理分析 | 5 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
| Moisture Resistance 濕度抵抗 | 6 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
| Humidity Bias 偏高濕度 | 7 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
| High Temperature Operating Life 高溫工作壽命 | 8 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
| External Visual 外觀 | 9 | NG | 所有提交認(rèn)證的產(chǎn)品 | 0 | |
| Physical Dimensions 尺寸 | 10 | NG | 30 | 1 | 0 |
| Terminal Strength(Leaded) 端子強(qiáng)度（引腳） | 11 | DGL | 30 | 1 | 0 |
| Resistance to Solvent 溶劑抵抗 | 12 | DG | 5 | 1 | 0 |
| Mechanical Shock 機(jī)械沖擊 | 13 | DG | 30 Note B | 1 | 0 |
| Vibration 振動(dòng) | 14 | DG | 30 Note B | 1 | 0 |
| Resistance to Solder Heat 抗焊接熱 | 15 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Thermal Shock 熱沖擊 | 16 | DG | 30 | 1 | 0 |
| ESD 靜電放電 | 17 | D | 15 | 1 | 0 |
| Solderability 可焊性 | 18 | D | 15 每種條件 | 1 | 0 |
| Electrical Characterization 電氣特性 | 19 | NG | 30 Note A | 1 | 0 |
| Flammability 可燃性 | 20 | D | |||
| Present certificate of compliance提供合格證明書 | |||||
| Board Flex 板彎曲 | 21 | DS | 30 | 1 | 0 |
| Terminal Strength (SMD) 端子強(qiáng)度（表面貼裝元件） | 22 | DS | 30 | 1 | 0 |
| Beam Load 射束負(fù)載（斷裂強(qiáng)度） | 23 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Flame Retardance 阻燃測(cè)試 | 24 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Rotation Life 旋轉(zhuǎn)壽命 | 25 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Surge Voltage 沖擊電壓 | 27 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Salt Spray 鹽霧試驗(yàn) | 29 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Electrical Transient Conduction 瞬時(shí)電傳導(dǎo) | 30 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Shear Strength 剪切強(qiáng)度 | 31 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Short Circuit Fault Current Durability 短路失效電流耐久性 | 32 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Fault Current Durability 失效電流耐久性 | 33 | DG | 30 | 1 | 0 |
| End-of-Life Mode Verification 壽命終止模式驗(yàn)證 | 34 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Jump Start Endurance 助推啟動(dòng)持久性 | 35 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Load Dump Endurance 突卸負(fù)載持久性 | 36 | DG | 30 | 1 | 0 |
表1說(shuō)明
Note A：對(duì)于參數(shù)驗(yàn)證數(shù)據(jù)，某些情形不可避免地用戶只接受一批。隨后的用戶應(yīng)決定使用先前用戶的認(rèn)證承認(rèn)，后續(xù)用戶有責(zé)任驗(yàn)證使用的可接受批次數(shù)量。
B：用通用的（家族）數(shù)據(jù)代替器件具體數(shù)據(jù)的，要求3批。
L：只用于直插引腳
N：非破壞性測(cè)試，器件可用于組裝到板子上進(jìn)行其它測(cè)試或者可用于生產(chǎn)
D：破壞性測(cè)試，器件不可重新用于認(rèn)證測(cè)試或生產(chǎn)；
S：只要求用于表面貼裝元件；
G：允許通用數(shù)據(jù)
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